產品展示
近場探頭EM5030（DC-3G）
概述：
近場探頭EM5030（DC-3G） 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；檢測模塊附近的磁場環境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過(guo)近(jin)場探(tan)頭測量可(ke)以(yi)很方(fang)便地實(shi)現定位功能(neng)。通(tong)過配合EM5020A(20dB增(zeng)益)或者EM5020B(30dB增(zeng)益)前(qian)置放大(da)器可以提(ti)高系統測試(shi)靈(ling)敏度。
技術參數：
訂購信息：
EM5030 近場探頭（3G）
標準配(pei)置：4根探頭、N型轉接(jie)頭、連接(jie)線、包裝(zhuang)箱；
