輻射抗擾度測試性能:
射頻輻射抗擾度測試系(xi)統RS-100 依據IEC/EN61000-4-3(GB/T 17626.3)的射(she)(she)頻電磁場輻(fu)射(she)(she)抗擾(rao)度試驗,用來模擬設(she)備(bei)遭(zao)受射(she)(she)頻輻(fu)射(she)(she)干擾(rao)的情況,尤(you)其是模擬設(she)備(bei)周(zhou)圍人員在可能對設(she)備(bei)帶來的影響。
盡(jin)管單個手機(ji)的(de)功率并不大,但由于距(ju)離近(jin),有可能造(zao)成(cheng)局部(bu)場強很高的(de)情(qing)況(kuang)。如其他無線電(dian)臺、電(dian)視(shi)廣播發射(she)臺、移動(dong)通信發射(she)基站、各種工業(ye)電(dian)磁輻射(she)源;以及電(dian)焊機(ji)、可控硅整流器(qi)、熒光(guang)燈等在工作時也會對(dui)設備產生(sheng)輻射(she)現象。的(de)標(biao)準(zhun)規定試驗(yan)測試頻(pin)率為80MHz-6GHz;測試場強在1V/m ~ 10V/m之(zhi)間。
參數:
等級 | 一般試驗場強 | 保護(設備(bei))抵抗射(she)(she)頻(pin)輻射(she)(she)測(ce)試場強(800-960MHz及1.4-6G) |
1 | 1V/m | 1V/m |
2 | 3V/m | 3V/m |
3 | 10V/m | 10V/m |
4 | - | 30V/m |
結構組成:
典型的射頻電磁場系統,由下列設(she)備(bei)組成:
軟件控制臺
控(kong)制(zhi)整個系(xi)統進行(xing)校準,測試并產生(sheng)打印報(bao)告(gao);
信號發生器
用于按照測(ce)試(shi)標準產生規定頻率范圍內(nei)的調制或(huo)者未(wei)調制信號
RF功率放大器
按照測試標(biao)準(zhun),把信號(hao)發生器(qi)產生的(de)(de)信號(hao)電(dian)平放大至測試標(biao)準(zhun)所需的(de)(de)功率(lv),功放的(de)(de)功率(lv),取
決于測試標準的(de)場強、EUT和天線的(de)距離。
場強計
試驗測試時(shi),將場強(qiang)計放置在暗示內EUT位置處,實時(shi)測量(liang)系統產生的場強(qiang)。
校準測(ce)試(shi)時,利(li)用場強計替代(dai)EUT,使用功率計測(ce)量實際注入的功率,為(wei)此,在功率放大器(qi)后接一(yi)個定向耦合器(qi),由(you)功率計測(ce)量前向功率和后向功率,并(bing)把讀取(qu)的功率存儲,用于EUT測(ce)試(shi)。
射頻開關(控制器)
具有多個功率放大(da)器組成的自(zi)動測試(shi)系統中,切換當前使(shi)用的功率放大(da)器。
發射天線
將被功(gong)率放(fang)大(da)器放(fang)大(da)的信(xin)號通(tong)過(guo)發射(she)天(tian)線(xian)轉換為(wei)電磁場(chang)(chang)輻射(she),為(wei)了使用(yong)盡可能小的功(gong)率放(fang)大(da)器產生足夠的場(chang)(chang)強(qiang),一般(ban)使用(yong)高(gao)增(zeng)益(yi)天(tian)線(xian)作(zuo)為(wei)發射(she)天(tian)線(xian)。目(mu)前使用(yong)zui廣(guang)泛的是對(dui)數周期天(tian)線(xian),有寬頻(pin)、高(gao)增(zeng)益(yi)和寬波瓣等特點。