TBPS01近場探頭

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概(gai)述

TBPS01近場探頭由TH20，H10，H5和E5是磁場（H）和電場（E）探頭，用于輻射(she)發(fa)射(she)EMC預一致性測量。探(tan)(tan)頭用(yong)于電磁輻射源的近(jin)場。它們(men)用(yong)于在(zai)電子(zi)組(zu)件的構(gou)造塊中定(ding)位和識(shi)別潛(qian)在(zai)的干擾源。這(zhe)些探(tan)(tan)針的作用(yong)類似(si)于寬帶天線，用(yong)于拾取(qu)組(zu)件，PCB跡線，外殼開口或縫隙(xi)以及可能發射(she)射(she)頻(pin)(pin)的任(ren)何其(qi)他部件的輻射(she)。探頭通常連接(jie)到頻(pin)(pin)譜分析儀。在PCB組件或外殼的(de)(de)表面(mian)上掃描探針可(ke)以快速確定發出電磁輻射(she)的(de)(de)位置。通(tong)過更換為(wei)較小尺寸的(de)(de)探頭，可(ke)以進一(yi)步縮小發射(she)源的(de)(de)范圍。其他應用是通(tong)過將RF信(xin)號(hao)饋入探頭(tou)并(bing)將(jiang)其(qi)輻射到潛在(zai)敏感的電路(lu)部分(fen)中來(lai)進(jin)行RF抗(kang)擾(rao)度測試：此外(wai)，探(tan)頭可用(yong)于(yu)維修或調試領域，以通(tong)過減(jian)少接觸式RF測量來跟蹤RF信號鏈中的問題。信號電平。另一(yi)種(zhong)應用是對射頻構件（例(li)如(ru)調制器或振蕩器）的無創測量(liang)。頻率，相位(wei)噪聲和(he)頻譜分量(liang)可以與(yu)低(di)噪聲前置(zhi)放大器一(yi)起測量(liang)。

應用：

EMI輻射預(yu)測/整改(gai)

探頭尺寸：

頻率(lv)響(xiang)應：

耦合衰減：