BCI大電流注入探頭TBBCI1-800K420 10K-500M
BCI大電流注入探頭TBBCI1-800K420 10K-500M TBBCI1-800K420 是一(yi)款卡扣(kou)式大(da)電流注入(ru)探頭，擴展了我們經濟實惠的(de)EMC 預測試產品范圍.
根(gen)據ISO11452-4 標準，BCI 探頭主(zhu)要(yao)用于在1MHz 至(zhi)400MHz 頻率范圍內對汽車產品進(jin)行(xing)抗擾
度(du)測試(shi)。對于(yu)其大部分帶寬而言，揑入損耗(hao)為5dB。在(zai)250 kHz 到230 MHz 的頻率范圍(wei)內，它符合(he)
ISO11452-4 的揑(nie)入(ru)損耗規(gui)范(fan)(fan)。該探頭具有(you)單獨的特性(xing)，可在10 kHz–450 MHz 的頻(pin)率范(fan)(fan)圍內使(shi)用。
BCI大電流注入探頭TBBCI1-800K420 10K-500M TBBCI1-800K420 電流注入(ru)探(tan)頭可(ke)用于注入(ru)嚴重(zhong)程度等級I（60mA）、II（100mA）、III（150mA）、
IV（200mA）和客戶特定嚴(yan)重程度等級(ji)V，最高(gao)可達350mA。
TBBCI-800K420 注(zhu)入電流探頭空間(jian)為27mm，典型(xing)揑入損耗5dB，典型(xing)傳輸阻抗為26dB
該(gai)探頭還(huan)可用于射(she)頻電(dian)流監測應用。
2. 產品特點
? 10KHz-500MHz 頻率范(fan)圍(wei)
? 單獨校準、分體(ti)式夾具(ju)設計
? 符合IEC/EN 6100-4-6 ISO11452-4
? 典型揑入損耗(hao) 5dB、典型傳輸阻抗26dBOhm
? 27mm 孔徑(jing)、1 年(nian)質保
3. 應(ying)用(yong) BCI校準夾具
射頻抗擾度測試
插(cha)入損耗和傳輸阻抗(kang)表
下表顯示了TBBCI1-800K420 BCI探頭的典型揑入損(sun)耗和傳(chuan)輸阻(zu)抗數(shu)(shu)據。每個電流探針都帶有(you)相應的測(ce)量(liang)(liang)協議(yi)。這些數(shu)(shu)據可用(yong)于計(ji)算抗擾度測(ce)試所需(xu)的功(gong)率，或用(yong)于創建EMCview或類似EMC測(ce)量(liang)(liang)軟件的校(xiao)正文件。從以(yi)dBμV為(wei)單位的分(fen)析(xi)儀讀(du)數(shu)(shu)中減(jian)去以(yi)dBΩ為(wei)單位的傳(chuan)輸阻(zu)抗，得出以(yi)dBμA為(wei)單位的校(xiao)正讀(du)數(shu)(shu)。
技術指標
類 型 ： 電流注入探(tan)頭
符(fu) 合 : ISO 11452-4；IEC/EN 6100-4-6
頻率范圍: 10KHz – 500MHz
揑入損耗 : 5dB @典型值，50歐姆(mu)（100歐姆(mu)回路(lu)阻抗）
傳輸阻抗(kang) : 29dBΩ@典(dian)型(xing)值，50歐(ou)姆（100歐(ou)姆回路阻抗(kang)）
最(zui)(zui)大輸入功率 : 根據(ju)ISO11452注入測試(shi)等級I/II/III/IV,最(zui)(zui)高350mA
最高溫度: 80℃
連接口 : N型
內徑 : 27mm
直徑(jing) : 92mm
高度(du): 76mm
重(zhong)量: 1.2 Kg
質保(bao): 1年
標準配置: 探頭、說明書、線纜(lan)、校準證書
